वैशिष्ट्ये:
- टिकाऊ
- कमी अंतर घालणे
- नुकसान कमी VSWR
+८६-२८-६११५-४९२९
sales@qualwave.com
मायक्रोवेव्ह प्रोब ही इलेक्ट्रॉनिक उपकरणे आहेत, जी इलेक्ट्रॉनिक सर्किट्समधील विद्युत सिग्नल किंवा गुणधर्म मोजण्यासाठी किंवा तपासण्यासाठी वापरली जातात. मोजल्या जाणाऱ्या सर्किट किंवा घटकाबद्दल माहिती गोळा करण्यासाठी, ती सहसा ऑसिलोस्कोप, मल्टीमीटर किंवा इतर चाचणी उपकरणांना जोडलेली असतात.
१. टिकाऊ मायक्रोवेव्ह प्रोब
२. १००/१२५/१५०/२५०/३००/४०० मायक्रॉन या चार अंतरांमध्ये उपलब्ध.
३. डीसी ते ११० गिगाहर्ट्झ
४. इन्सर्शन लॉस १.५dB पेक्षा कमी
५. VSWR २dB पेक्षा कमी
६. बेरिलियम कॉपर मटेरियल
७. उच्च विद्युत प्रवाहाची आवृत्ती उपलब्ध (४ए)
८. हलके दाब आणि विश्वसनीय कामगिरी
९. ऑक्सिडेशन-विरोधी निकेल मिश्रधातूचे प्रोब टोक
१०. सानुकूलित संरचना उपलब्ध आहेत
११. मायक्रोवेव्ह इंटिग्रेटेड सर्किट्सच्या ऑन-चिप चाचणी, जंक्शन पॅरामीटर निष्कर्षण, MEMS उत्पादन चाचणी आणि ऑन-चिप अँटेना चाचणीसाठी उपयुक्त.
१. उत्कृष्ट मापन अचूकता आणि पुनरावृत्तीक्षमता
२. ॲल्युमिनियम पॅडवरील लहान ओरखड्यांमुळे होणारे किरकोळ नुकसान
३. ठराविक संपर्क प्रतिरोध<०.०३Ω
१. आरएफ सर्किट चाचणी:
मिलीमीटर वेव्ह प्रोब्स आरएफ सर्किटच्या टेस्ट पॉईंटला जोडून, सिग्नलचे अॅम्प्लिट्यूड, फेज, फ्रिक्वेन्सी आणि इतर पॅरामीटर्स मोजून सर्किटची कार्यक्षमता आणि स्थिरता यांचे मूल्यांकन केले जाऊ शकते. याचा उपयोग आरएफ पॉवर अॅम्प्लिफायर, फिल्टर, मिक्सर, अॅम्प्लिफायर आणि इतर आरएफ सर्किट्सची चाचणी करण्यासाठी केला जाऊ शकतो.
२. बिनतारी संचार प्रणालीची चाचणी:
रेडिओ फ्रिक्वेन्सी प्रोबचा वापर मोबाईल फोन, वाय-फाय राउटर, ब्लूटूथ उपकरणे इत्यादींसारख्या वायरलेस कम्युनिकेशन उपकरणांची चाचणी घेण्यासाठी केला जाऊ शकतो. एमएम-वेव्ह प्रोबला उपकरणाच्या अँटेना पोर्टशी जोडून, ट्रान्समिट पॉवर, रिसीव्ह सेन्सिटिव्हिटी आणि फ्रिक्वेन्सी डेव्हिएशन यांसारखे पॅरामीटर्स मोजले जाऊ शकतात, ज्यामुळे उपकरणाच्या कार्यक्षमतेचे मूल्यांकन करता येते आणि सिस्टम डीबगिंग व ऑप्टिमायझेशनसाठी मार्गदर्शन मिळते.
३. आरएफ अँटेना चाचणी:
कोॲक्सिअल प्रोबचा वापर अँटेनाच्या रेडिएशन वैशिष्ट्ये आणि इनपुट इम्पेडन्स मोजण्यासाठी केला जाऊ शकतो. RF प्रोब अँटेनाच्या रचनेला स्पर्श करून, अँटेनाचे VSWR (व्होल्टेज स्टँडिंग वेव्ह रेशो), रेडिएशन मोड, गेन आणि इतर पॅरामीटर्स मोजले जाऊ शकतात, ज्यामुळे अँटेनाच्या कार्यक्षमतेचे मूल्यांकन करता येते आणि अँटेनाचे डिझाइन व ऑप्टिमायझेशन करता येते.
४. आरएफ सिग्नलचे निरीक्षण:
सिस्टममधील आरएफ सिग्नलच्या प्रसारणावर देखरेख ठेवण्यासाठी आरएफ प्रोबचा वापर केला जाऊ शकतो. याचा उपयोग सिग्नल क्षीणता, व्यत्यय, परावर्तन आणि इतर समस्या शोधण्यासाठी, सिस्टममधील दोष शोधून त्यांचे निदान करण्यासाठी, तसेच संबंधित देखभाल आणि डीबगिंग कार्याला मार्गदर्शन करण्यासाठी केला जाऊ शकतो.
५. विद्युतचुंबकीय सुसंगतता (EMC) चाचणी:
सभोवतालच्या वातावरणातील आरएफ हस्तक्षेपाला इलेक्ट्रॉनिक उपकरणांची संवेदनशीलता तपासण्यासाठी, उच्च वारंवारता प्रोबचा वापर करून ईएमसी चाचण्या केल्या जाऊ शकतात. उपकरणाजवळ आरएफ प्रोब ठेवून, बाह्य आरएफ क्षेत्रांना उपकरणाचा प्रतिसाद मोजणे आणि त्याच्या ईएमसी कार्यक्षमतेचे मूल्यांकन करणे शक्य होते.
क्वालवेव्हइंक. DC~110GHz उच्च वारंवारता प्रोब पुरवते, ज्यात दीर्घ सेवा आयुष्य, कमी VSWR आणि कमी इन्सर्शन लॉस ही वैशिष्ट्ये आहेत आणि ते मायक्रोवेव्ह चाचणी व इतर क्षेत्रांसाठी योग्य आहेत.

| सिंगल पोर्ट प्रोब्स | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| भाग क्रमांक | वारंवारता (GHz) | पिच (μm) | टोकाचा आकार (मी) | आयएल (कमाल डेसिबल) | व्हीएसडब्ल्यूआर (कमाल) | कॉन्फिगरेशन | माउंटिंग शैली | कनेक्टर | पॉवर (वॅट कमाल) | लागणारा वेळ (आठवडे) |
| क्यूएसपी-२६ | डीसी~२६ | २०० | 30 | ०.६ | १.४५ | SG | ४५° | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| क्यूएसपी-२६.५ | डीसी~२६.५ | १५० | 30 | ०.७ | १.२ | जीएसजी | ४५° | एसएमए | - | २~८ |
| क्यूएसपी-४० | डीसी~४० | १००/१२५/१५०/२५०/३००/४०० | 30 | 1 | १.६ | जीएस/एसजी/जीएसजी | ४५° | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| क्यूएसपी-५० | डीसी~५० | १५० | 30 | ०.८ | १.४ | जीएसजी | ४५° | २.४ मिमी | - | २~८ |
| क्यूएसपी-६७ | डीसी~६७ | १००/१२५/१५०/२४०/२५० | 30 | १.५ | १.७ | जीएस/एसजी/जीएसजी | ४५° | १.८५ मिमी | - | २~८ |
| क्यूएसपी-११० | डीसी~११० | ५०/७५/१००/१२५/१५० | 30 | १.५ | 2 | जीएस/जीएसजी | ४५° | १.० मिमी | - | २~८ |
| ड्युअल पोर्ट प्रोब्स | ||||||||||
| भाग क्रमांक | वारंवारता (GHz) | पिच (μm) | टोकाचा आकार (मी) | आयएल (कमाल डेसिबल) | व्हीएसडब्ल्यूआर (कमाल) | कॉन्फिगरेशन | माउंटिंग शैली | कनेक्टर | पॉवर (वॅट कमाल) | लागणारा वेळ (आठवडे) |
| क्यूडीपी-४० | डीसी~४० | १२५/१५०/६५०/८००/१००० | 30 | ०.६५ | १.६ | एसएस/जीएसजीएसजी | ४५° | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| क्यूडीपी-५० | डीसी~५० | १००/१२५/१५०/१९० | 30 | ०.७५ | १.४५ | जीएसएसजी | ४५° | २.४ मिमी | - | २~८ |
| क्यूडीपी-६७ | डीसी~६७ | १००/१२५/१५०/२०० | 30 | १.२ | १.७ | एसएस/जीएसएसजी/जीएसजीजी | ४५° | १.८५ मिमी, १.० मिमी | - | २~८ |
| मॅन्युअल प्रोब्स | ||||||||||
| भाग क्रमांक | वारंवारता (GHz) | पिच (μm) | टोकाचा आकार (मी) | आयएल (कमाल डेसिबल) | व्हीएसडब्ल्यूआर (कमाल) | कॉन्फिगरेशन | माउंटिंग शैली | कनेक्टर | पॉवर (वॅट कमाल) | लागणारा वेळ (आठवडे) |
| क्यूएमपी-२० | डीसी~२० | ७००/२३०० | - | ०.५ | 2 | एसएस/जीएसएसजी/जीएसजीजी | केबल माउंट | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| क्यूएमपी-४० | डीसी~४० | ८०० | - | ०.५ | 2 | जीएसजी | केबल माउंट | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| डिफरेंशियल टीडीआर प्रोब्स | ||||||||||
| भाग क्रमांक | वारंवारता (GHz) | पिच (μm) | टोकाचा आकार (मी) | आयएल (कमाल डेसिबल) | व्हीएसडब्ल्यूआर (कमाल) | कॉन्फिगरेशन | माउंटिंग शैली | कनेक्टर | पॉवर (वॅट कमाल) | लागणारा वेळ (आठवडे) |
| क्यूडीटीपी-४० | डीसी~४० | ०.५~४ | - | - | - | एसएस/जीएस | - | २.९२ मिमी | - | २~८ |
| कॅलिब्रेशन सब्सट्रेट्स | ||||||||||
| भाग क्रमांक | पिच (μm) | कॉन्फिगरेशन | डायलेक्ट्रिक स्थिरांक | जाडी | बाह्यरेखा परिमाण | लागणारा वेळ (आठवडे) | ||||
| क्यूसीएस-५०-१५०-जीएसजी-ए | ५०-१५० | जीएसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||
| क्यूसीएस-७५-२५०-जीएस-एसजी-ए | ७५-२५० | जीएस/एसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||
| क्यूसीएस-१००-जीएसएसजी-ए | १०० | जीएसएसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||
| क्यूसीएस-१००-२५०-जीएसजी-ए | १००-२५० | जीएसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||
| क्यूसीएस-२५०-५००-जीएसजी-ए | २५०-५०० | जीएसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||
| क्यूसीएस-२५०-१२५०-जीएसजी-ए | २५०-१२५० | जीएसजी | ९.९ | २५ मिल (६३५ मायक्रॉन) | १५*२० मिमी | २~८ | ||||